《GB/T 12085.22-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第22部分: 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動綜合試驗》是中國國家標(biāo)準(zhǔn)，屬于光學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在實驗室條件下進(jìn)行光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備的綜合環(huán)境試驗方法，涵蓋了低溫、高溫、溫度變化、碰撞和隨機(jī)振動等多個環(huán)境因素的綜合試驗。

一、范圍：
本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)低溫，高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動綜合試驗的環(huán)境試驗方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器以及來自其他領(lǐng)域的組件(如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備)的低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動綜合試驗。

二、試驗項目：
溫度、振動綜合試驗。

三、試驗設(shè)備：
綜合試驗箱。

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五、試驗程序（部分）：

若進(jìn)行溫度變化測試,則所需要的暴露時間從溫度變化開始時啟動。試樣和試驗箱(室)溫度應(yīng)相同。

光學(xué)和光子學(xué)儀器試驗應(yīng)采用半正弦脈沖。試樣應(yīng)沿每個軸向每一方向經(jīng)受1 000次沖擊，或確定具體的沖擊次數(shù)。

隨機(jī)振動用數(shù)字控制的方式進(jìn)行。加速度功率譜密度應(yīng)采用按GB/T 2423.56的振動控制系統(tǒng)進(jìn)行控制。

其他參數(shù)如低溫或高溫﹑溫度變化，隨機(jī)振動類型、溫度暴露時間，振動暴露時間，沖擊次數(shù).沖擊重復(fù)頻率、沖擊或振動軸、運行狀態(tài)等，應(yīng)在相關(guān)規(guī)范中規(guī)定。

綜合環(huán)境試驗是為了模擬光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備在實際使用中可能遇到的復(fù)雜環(huán)境條件，包括溫度變化、碰撞和振動等。這些試驗有助于評估設(shè)備在這些條件下的性能和可靠性，以確保其在實際應(yīng)用中能夠正常工作。這對于需要在惡劣環(huán)境條件下使用的光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備非常重要，如衛(wèi)星通信設(shè)備、激光測量儀器、航天器載荷等。通過進(jìn)行綜合環(huán)境試驗，可以確定設(shè)備的耐受性，以減少在實際使用中的故障風(fēng)險。