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YD/T 2284-2011《終端光組件用光纖帶》是一項中華人民共和國通信行業(yè)標準，該標準規(guī)定了終端光組件用光纖帶的結(jié)構(gòu)、型號、技術(shù)指標、試驗方法、檢驗規(guī)則以及包裝、運輸和貯存要求。
一、范圍：
本標準規(guī)定了通信用光電子器件可靠性試驗方法的一般要求和詳細要求，包括:試驗目的、設(shè)備、條件、程序、檢驗及失效判據(jù)。
本標準適用于通信用光電子器件，包括但不限于激光二極管、發(fā)光二極管、光電二極管、雪崩光電二極管及由它們組成的組件或模塊，簡稱“光電子器件”。其他領(lǐng)域的光電子器件也可參照使用。
二、試驗項目：
熱沖擊試驗、高低溫試驗、溫度循環(huán)試驗、恒定濕熱試驗等。
三、試驗設(shè)備：
恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、高溫老化箱等。
四、文檔獲?。?br/>添加微信：15322932685 獲取
.jpg "《YD/T 2342-2011 通信用光電子器件可靠性試驗方法》標準(圖1)")
五、試驗程序（部分）：
高溫壽命試驗：
試驗條件如下:
試驗溫度:(85士2)℃(不限于):
工作偏置:正常工作偏置（不限于);
試驗時間:5000h（不限于)。
試驗程序如下:
a)試驗前應對試樣的主要光電特性進行測試;
b)將試樣放進高溫試驗箱內(nèi)，并使樣品處于工作狀態(tài);
c)按照試驗條件開始試驗，記錄起始時間、試驗溫度和樣本數(shù);
d)使用監(jiān)視儀器，從試驗開始到試驗結(jié)束監(jiān)視試驗溫度和工作偏置，以保證全部試樣按條件施加應力;
e)在中間測試時將樣品從高溫試驗箱取出，測試完成后放回高溫試驗箱繼續(xù)進行試驗。
檢測
一般每168h在常溫下測試一次光電特性。在測試前應先去掉偏置，然后冷卻到室溫后進行測試。
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