國(guó)家標(biāo)準(zhǔn):GB/T 12085.16-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
2025-06-27
GB/T 12085.16-2010是關(guān)于光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法的標(biāo)準(zhǔn),其中第16部分規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)的方法。該試驗(yàn)方法旨在模擬光學(xué)…