常溫BIT測(cè)試?yán)匣袷怯糜诠虘B(tài)硬盤(pán)(SSD)常溫讀寫(xiě)測(cè)試(BurnInTest,BIT)的試驗(yàn)設(shè)備,老化柜可以提供固態(tài)硬盤(pán)運(yùn)行所需要的穩(wěn)定溫度,為BIT測(cè)試提供保障。
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