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快速升降溫試驗(yàn)箱在表面貼裝電子元器件產(chǎn)品中的應(yīng)用

文章出處 : 技術(shù)知識(shí) 文章編輯 : 環(huán)儀儀器 閱讀量 : 發(fā)表時(shí)間 : 2025-07-03

元器件的組裝越復(fù)雜,越需要更多的試驗(yàn)來(lái)驗(yàn)證可靠性。其中,環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)就是其中的一個(gè)試驗(yàn)項(xiàng)目,環(huán)境應(yīng)力篩選用到的試驗(yàn)設(shè)備為快速升降溫試驗(yàn)箱。


在環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)試驗(yàn)、老化試驗(yàn)、初始功能試驗(yàn)或在初期使用過(guò)程中,主要由于不充分的性能或生產(chǎn)工藝而導(dǎo)致的失效。


快速升降溫試驗(yàn)箱在表面貼裝電子元器件產(chǎn)品中的應(yīng)用(圖1)


為什么表面貼裝 電子元器件要做應(yīng)力篩選?


篩選過(guò)程利用由環(huán)境產(chǎn)生的應(yīng)力,使組裝件中“薄弱的”元器件的應(yīng)力超限達(dá)到失效點(diǎn),防止這些潛在缺陷在現(xiàn)場(chǎng)使用中出現(xiàn),引起現(xiàn)場(chǎng)失效。產(chǎn)生這些應(yīng)力的環(huán)境可能或不可能與產(chǎn)品使用環(huán)境條件有關(guān)。

一旦出現(xiàn)失效,元器件就會(huì)被檢測(cè)出來(lái)并被維修、替換、報(bào)廢,或?yàn)槲磥?lái)產(chǎn)品重新設(shè)計(jì)。ESS必須在不損壞“正常的”元器件的情況下進(jìn)行。ESS不是加速可靠性試驗(yàn)。


環(huán)境應(yīng)力篩選的主要設(shè)備:

1.快速升降溫試驗(yàn)箱/快速溫度變化試驗(yàn)箱

2.設(shè)備型號(hào):HYQT系列

3.設(shè)備品牌:環(huán)儀儀器

4.升降溫速率的選擇:5℃/min、10℃/min、15℃/min

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